纳米技术是人类进进二十一世纪以来，继计算机信息技术、生命科学后又一个推动全球科技革新、经济增长的一个新的重大领域。纳米技术在电子、机械、生物、材料等各个方面都起到举足轻重的作用。而纳米材料的检测又是纳米技术发展和创新的关键所在。但是由于纳米技术是一个新兴的领域，如何使得丈量数占有效和可靠，需要一套规范和标准来有据可依。而采用纳米标准颗粒作为标准参考物质来标定各种粒度仪和电镜具有多方面的优越性。本项目在上海市纳米专项的支持下，不仅对制备纳米标准颗粒的材料进行了筛选，并对其制备方法进行了选择和探索，研究了在制备过程中最主要的影响因素，通过对参数的优化，得到粒径可控且分布窄的纳米颗粒，并采用不同的仪器对其进行检测，同时与进口标准颗粒进行比对，测试数据结果表明二氧化硅纳米颗粒各项指标已基本达到标准颗粒的水平。

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